
弗戈工业在线讯 通向未来测量技术的门户——应用卡尔・蔡司的METROTOM®,将用户的工件放置的测量装置中,经过动态快速扫描,即可快速实现质量分析。从深入浅出便于理解的彩色几何图形对比到详尽的测试报告——有多种评价方式可供选择。相对于传统测量机的
破坏测量,利用断层成像技术,可实现产品无损可视化测量。无论是孔隙度或损伤分析,还是组装瑕疵或材料分析,通过3D 模型一切都尽收眼底。断层成像技术能大幅缩短产品研发周期和质量分析时间,实现工件瑕疵的实时可视化。操作METROTOM CT 非常
简单,用户只需简单培训,就能够对零件进行断层成像扫描,并能够对生成的3D 模型进行分析。
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