如何一次扫描识别颗粒污染物？
蔡司工业质量解决方案
2021-07-23
污染物通常源于外壳、泵、阀门或管道内部。从样品中提取颗粒后，过滤整个提取介质，并将颗粒沉积在分析滤膜上，在光学显微镜下检查滤膜，以量化颗粒污染物。
由于污染导致设备停机时间变长，并导致系统的使用寿命降低，固体颗粒污染耐受性的降低速率也在增加，这种情况不仅仅发生在汽车行业，医疗、航空航天和增材制造等领域也面临着挑战。
因此，根据VDI第19.1部分或国际标准ISO 16232 检查微粒清洁度已成为质量管理的固定组成部分。
污染物通常源于外壳、泵、阀门或管道内部。从样品中提取颗粒后，过滤整个提取介质，并将颗粒沉积在分析滤膜上，在光学显微镜下检查滤膜，以量化颗粒污染物。如果发现了临界水平的颗粒，通常在电子显微镜下进行分析，以确定元素组成，从而找到污染的根本原因。
无缝集成工作流程中光学显微镜和电子显微镜的相关分析
加快技术清洁度的颗粒分析过程
获取结果，仅需三步
1.选择您的工作流程并开始分析您的样本
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