inLux用于将高性能的拉曼光谱分析能力(包括结构和化学分析),增添到扫描电子显微镜 (SEM) 内部。在SEM上连接inLux接口,便可实现同时、原位执行SEM分析和拉曼光谱分析。
inLux接口应用广泛,通过拉曼与SEM关联分析,可以获得丰富详实且互为补充的信息。无论您需要材料的高倍率图像,还是更详实的化学和结构信息,将这些技术结合在一起可以满足各种各样的分析需求。
inLux采用绝对式光栅提供防撞保护,从而确保inLux的探头不会与任何SEM附件发生碰撞。您无需移动样品,只需移动探头,能够针对样品上超过500 μm³的区域生成图像。各行各业的研究人员都能够通过inLux接口受益。
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