自上世纪80年代第一台复合式测量机的雏形投放市场以来，已证明了其广泛的应用价值。“这就说明了为什么复合式测量机如此受欢迎，尤其是ZEISS O-INSPECT。”蔡司产品经理Christoph Stark说道。牙植体、微小的汽车零部件或灵敏的智能手机元件，对于这些微小易损或批量测量的工件，用户仅需打开ZEISS O-INSPECT上的照相机即可测量。对于3D特性的测量，接触式测头便发挥其优势。共聚焦白光测头(CFS) 更是弥补了接触式测头与光学测头的不足。即使对于表面对比度较低或反光的微小且敏感的工件，使用具有自动对焦系统的白光测头进行测量绰绰有余。目前，有两款不同型号的ZEISS O-INSPECT供用户选择：一款是紧凑型，具备12 dm3的测量范围，另一款具备32  dm3的测量范围。后者可选配共聚焦白光测头。

S、L或XXL

随着精度的提高，测量机测量范围更是以前的两倍，测量机应像智能手机这类产品一样紧跟时代的脚步。现在ZEISS O-INSPECT有了更多的选择，最小的型号测量范围仅为300  mm×200 mm×200 mm，即为12 dm3，并具有足够的承载能力。另一种型号测量范围为500 mm×400 mm×300 mm，即为60 dm3。尽管测量范围增加了近一倍，但精度及动态性能并没有下降，甚至机器的承载能力更强。 ZEISS还提供一款XXL机型，适用于大型或重型工件，大型托盘可承载更多的工件。其测量范围是800 mm×600 mm×300 mm，即为144 dm3，可承载达100 kg的工件。

更灵敏还是更灵活的测量

使用接触式测头的用户可体验操作的灵活性。可选配ZEISS VAST XXT TL1及ZEISS VAST XXT TL3扫描测头。TL1具有微小测力，适用于扫描敏感的工件，如照相机镜头组件、智能手机的薄壁塑料部件。而TL3可灵活地用于较大规格的工件，即使配置更重的探针，也可达到规定的精度。此外，使用配置ZEISS VAST XXT TL3的ZEISS DuraMax或ZEISS CONTURA三坐标测量机的操作人员于ZEISS O-INSPECT上也可使用这些机器上的探针组。因此，通常于接触式测量机上完成的任务，在需要的情况下也可使用ZEISS O-INSPECT完成。

马上订货还是之后升级

之前，众多附件仅限于某个ZEISS O-INSPECT型号使用，而现在这些附件适用于所有型号，如使用三点式固定的托盘系统或共聚焦白光测头(CFS)，为微型元件与照相机镜头的制造商提供诸多利好，他们无需为了拥有三个测头而购买一个更大的测量机。CFS可后续拓展，因为ZEISS为所有的O-INSPECT CFS机型配备所需的安装底座、光导电缆等，无需额外费用。因此当用户的产品组合增加或质量要求提高时，他们无需购买新的设备。

希望在托盘上测量多个工件的用户也可从ZEISS O-INSPECT上获益，集成式的三点式插孔使托盘的校准及定位十分容易与高效，这一配置为所有机型的标配功能。用户是如何获益的?在测量过程中，可将工件装卡于第二个托盘上。之后，只需使用三点式插孔定位托盘即可进行测量，也可使用机器人自动上下料。 这使得测量一周7天每天24 h不受操作人员的影响。新特点是当托盘被定位时，机器自动记录多个工件的温度，以此对测量值的误差进行数学补偿。这一过程是通过测量机与托盘之间集成的温度接口完成。

高动态性能

除了众多的定制选项，新的ZEISS O-INSPECT系列产品还具有相当高的动态性能。这样的高动态性能不仅表现于手动操作，自动运行依然如此。尽管测量范围较大，为了达到如此高的动态性能，研发人员汇集了来自ZEISS Max line及Performance line上测量机的所有经验。使其集成更强大的驱动部件与控制系统。此外，新的设计为机器减少了移动重量。因此提高了移动速度及加速度。

O-INSPECT与 CALYPSO测量软件提供全新的可视化功能，使O-INSPECT全面开启了测量机可视化的新纪元。通过它们可以同时查看实际状态、理论状态及偏差，更快捷诠释测量结果。